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日本大塚otsuka 電位·粒徑·分子量測試系統(tǒng) ● nanoSAQLA是一臺通過動態(tài)光散亂法(DLS法)測量粒徑(粒徑0.6nm~10um)的裝置。支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內的多檢體測定的新光學系統(tǒng),實現(xiàn)了實驗室必需的輕量、小型化、標準1分鐘的高速測定。 另外,這是一款非浸泡型、不受接觸器影響、無需自動取樣器、標準配備“5檢體連續(xù)測量”的新產品。
日本大塚otsuka MINUK 3D顯微鏡 MINUK可評價nm級的透明的異物?缺陷,一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息,可非破壞?非接觸?非侵入的進行測量。且無需對焦,可在任意的面進行高速掃描,輕松決定測量位置。
日本大塚otsuka 顯微分光膜厚儀 OPTM ● 非接觸 · 非破壞 · 顯微、對焦、測量1秒完成 ● OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀,測試膜厚、折射率n、消光系數(shù)k、絕對反射率的新型高精度、高性價比的分光膜厚儀。適用于各種可透光膜層的測試,并有可針對透明基板去除背面反射,從而達到“真實反射率、膜厚”測試的目的。此外,軟件操作簡單、使用方便且簡化了復雜的建模流程。...
日本大塚otsuka SMART光學膜厚計測厚儀與桌上型光學膜厚儀相比,Smart膜厚儀在“現(xiàn)場”以非破壞式直接量測樣品,且可以量測特殊形狀樣品。與接觸式膜厚儀相比,Smart膜厚儀不僅不會破壞您的樣品,也不會因為用戶不同而產生誤差且遠高于接觸式膜厚計的量測精度。
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